Raziskovalna oprema

^

Seznam

Raziskovalna oprema sofinancirana s strani ARRS (Javne agencije za raziskovalno dejavnost Republike Slovenije).

^

Sistem za karakterizacijo fotonskih integriranih vezij

Opis

Sistem je namenjen za optično in električno karakterizacijo integriranih fotonskih gradnikov in raznovrstnih fotonskih integriranih vezij.

Optično kontaktiranje je izvedeno preko polja enorodovnih optičnih vlaken. Električno kontaktiranje je izvedeno preko polja kontaktnih igel. Optično kontaktiranje je avtomatsko.

Specifikacije

  • avtomatska merilna enota za kontaktiranje čipa (z metodo avtomatskega iskanja optičnih sklopnikov na čipu) proizvajalca Maple Leaf Photonics, tip MLP  SD100 (6 DOF, 4 motorizirane osi, ločljivost nastavitve 2 nm, X/Y/Z: 50/25/12 mm pomika po čipu, temperaturno stabilizirana nastavljiva mizica za čip, 4 DOF, 1 motorizirana os)
  • niz optičnih vlaken, 8 enorodovnih vlaken, razmik 127 um, vpadni kot 8 stopinj
  • ročno nastavljiva mizica za el. kontaktiranje (5 DOF), 10 Tu igel (DC - MHz), razmik 150 um, 8 kanalna tokovno napetostna merilna kartica (12 V/ 24 mA), 16 bitni izhod, 18 bitni vhod
  • laserski vir (Santec TSL 570-P, 1480 - 1640 nm)
  • merilnik optične moči (Santec MPM-211-04-F, 4 kanali, 1250 - 1680 nm, - 70 - + 5 dBm)
  • optični spektralni analizator (Yokogawa AQ6370D, 600 nm - 1700 nm, največja ločljivost 0.02 nm, dinamično območje 70 dB)
  • analizator polarizacije (Keysight N7781C, 1240 nm to 1650 nm)
  • programska oprema Photonica, ki usklajuje sistem in inštrumente ter omogoča izvedbo hitrih meritev
  • druga pripadajoča oprema

Kontaktna oseba

Janez Krč, e-pošta: janez.krc@fe.uni-lj.si, tel.: 01 4768 843

^

Laserski sistem za izdelavo tankoplastih minimodulov

Laserski sistem je namenjen mikroobdelavi tankih plasti in se primarno uporablja za izdelavo tankoplastnih (perovskitnih) minimodulov s pomočjo rezov P1, P2 in P3. Laser se nahaja v dušikovi komori z rokavicami in je primeren tako za procesiranje absorpcijskih (perovskite) kot tudi prevodnih plasti (TCO). Sistem vsebuje odesavanje odstranjenih delcev preko hepa filtra.

Specifikacije

  • Dve valovni dolžini laserja 532 in 1064 nm,
  • širina laserskega žarka 25 µm,
  • 1 ns laserski pulz,
  • obdelava vzorcev do velikosti 14 cm x 14 cm,
  • avtomatska poravnava rezov.

Kontaktna oseba

Marko Jošt, e-pošta: marko.jost@fe.uni-lj.si, tel.: 01 4768 846

^

Sistem za merjenje fotoluminiscence in elektroluminiscence LuQY Pro

Sistem je namenjen merjenju foto- in elektroluminiscence manjših tankoplastnih vzorcev. Kontaktiranje je izvedeno za šest celic na substratu.

Specifikacije

  • Lasersko vzbujanje valovne dolžine 532 nm
  • Spektralna občutljivost v valovnem območju med 550-1050 nm
  • Integracijski čas od 1 ms do 65 s
  • Možnost nastavitve intenzitete laserskega žarka v območju med 0.1 in 1000 mW cm-2
  • Možnost izbire velikosti laserskega žarka 0.1 ali 1 cm2
  • Možnost meritve elektroluminiscence v območju ±10 V, ±150 mA
  • Avtomatski izračun kvantnega izkoristka in energijske reže

Kontaktna oseba

Marko Jošt, e-pošta: marko.jost@fe.uni-lj.si, tel.: 01 4768 846

^

Naprava za nanos tankih plasti

Opis

Naprava za nanos tankih plasti

Dostop

Naprava za nanos tankih plasti se nahaja v Laboratoriju za fotovoltaiko in optoelektroniko. Za možnost uporabe razvojnega okolja kontaktirajte predstojnika LPVO prof. dr. Marka Topiča. Glede na intenzivno uporabo razvojnega okolja za lastne RR potrebe je uporaba možna le v poznih popoldanskih terminih.

Cenik

Cena najema po dogovoru.

Kontaktna oseba

prof. dr. Marko Topič

^

Razvojno okolje tankoplastne fotovoltaike

Opis

Uporaba inertne komore za postopke nanašanja brez prisotnosti vlage ali kisika, kapljični tiskalnik za nanašanje anorganskih ali organskih past/plasti.

Dostop

Razvojno okolje se nahaja v Laboratoriju za fotovoltaiko in optoelektroniko. Za možnost uporabe razvojnega okolja kontaktirajte predstojnika LPVO prof. dr. Marka Topiča. Glede na intenzivno uporabo razvojnega okolja za lastne RR potrebe je uporaba možna le v poznih popoldanskih terminih.

Cenik

Cena najema po dogovoru.

Kontaktna oseba

prof. dr. Marko Topič

^

Sistem za vrednotenje gradnikov PVS

Opis

Testiranje izolacijske upornosti PV modulov, testiranje PV modulov pod različnimi klimatskimi pogoji, vrednotenje učinkovitosti razsmernikov.

Dostop

Sistem za vrednotenje gradnikov PVS se nahaja v Laboratoriju za fotovoltaiko in optoelektroniko. Za možnost vrednotenja kontaktirajte predstojnika LPVO prof. dr. Marka Topiča. Glede na intenzivno uporabo merilnika za lastne RR potrebe je uporaba možna le v poznih popoldanskih terminih.

Cenik

Cena najema po dogovoru.

Kontaktna oseba

prof. dr. Marko Topč

^

Sončni simulator

Opis

Merjenje učinkovitosti pretvorbe sončnih celic pod umetnim soncem spektra AM1.5.

Dostop

Merilnik se nahaja v Laboratoriju za fotovoltaiko in optoelektroniko. Za možnost karakterizacijo vzorcev kontaktirajte predstojnika LPVO prof. dr. Marka Topiča. Glede na intenzivno uporabo merilnika za lastne RR potrebe je uporaba možna le v poznih popoldanskih terminih.

Cenik

Cena najema po dogovoru.

Kontaktna oseba

prof. dr. Marko Topč

^

Merilnik UV/VIS/NIR transmisije in refleksije

Opis

Merjenje direktne in totalne transmisije in refleksije v valovnem območju od 200 do 3300 nm.

Dostop

Merilnik se nahaja v Laboratoriju za fotovoltaiko in optoelektroniko. Za možnost karakterizacijo vzorcev kontaktirajte predstojnika LPVO prof. dr. Marka Topiča. Glede na intenzivno uporabo merilnika za lastne RR potrebe je uporaba možna le v poznih popoldanskih terminih.

Cenik

Cena najema po dogovoru.

Kontaktna oseba

prof. dr. Marko Topč

Copyright © 2023 Laboratorij za fotovoltaiko in optoelektroniko. Vse pravice pridržane. | Vsebina.