O programu

Nika je programsko orodje, ki omogoča ekstrakcijo kompleksnega in valovno odvisnega lomnega količnika in debeline neznanega materiala. Temelji na RT metodi z lastnim inovativnim pristopom.

Ključne lastnosti

• Določanje lomnega količnika iz refleksije (R) in transmisije (T) ali poljubne kombinacije (RT, TT ali RR) pri poljubnem kotu.
• Polno avtomatiziran.
• Dobra zamenjava za drago elipsometrijo.
• Ne potrebuje približka disperzijske funkcije.
• Se lahko uporablja za poljuben isotropen in gladek material.

Testna različica

Ni na voljo.

Opis

Področje uporabe

Model se uporablja za določanje kompleksnega lomnega količnika poljubnega materiala oz tekočine. Program omogoča uporaba podpornih materialov, kot so steklo ali kivete za tekočine. Podporne materiale je mogoče pred glavno meritvijo tudi okarakterizirati za večjo natančnost določanja lomnih količnikov neznanih materialov

Model

Model izračuna refleksijo in transmisijo upoštevajoč širjenje valovanja v tankih in debelih plasteh (koherentno in nekoherentno širjenje valovanja). Iz meritev refleksije in transmisije program določi kompleksen in valovno odvisen lomni količnik plasti. Glavna prednost našega modela napram ostalim metodam je da ne potrebujemo disperzijske funkcije materiala, kar omogoča določanje lomnih količnikov poljubnega materiala. Model omogoča tudi zelo natančno določanje debeline neznane plasti, program potrebuje le grob začetni približek.

Reference

Objave

• ČAMPA, Andrej. NIKA - model for extracting refractive indices. 48th International Conference on Microelectronics, Devices and Materials & theWorkshop on Ceramic Microsystems, September 19 - September 21, 2012, Otočec, Slovenia.
• ČAMPA, Andrej, KRČ, Janez, SMOLE, Franc, TOPIČ, Marko. Determination of optical constants of thin amorphous silicon films by reflectance and transmittance measurements. 41th International Conference on Microelectronics, Devices and Materials and the Workshop on Green electronics, September, 14. - September 16. 2005, Ribno, Slovenia.
• Benjamin Lipovšek, Anastasiia Solodovnyk, Karen Forberich, Edda Stern, Janez Krč, Christoph J. Brabec, and Marko Topič, "Optical model for simulation and optimization of luminescent down-shifting layers filled with phosphor particles for photovoltaics," Opt. Express 23, A882-A895 (2015)
• F. Guo, H. Azimi, Y. Hou, T. Przybilla, M. Hu, C. Bronnbauer, S. Langner, E. Spiecker, K. Forberich, C.J. Brabec, High-performance semitransparent perovskite solar cells with solution-processed silver nanowires as top electrodes, Nanoscale. 7 (2015) 1642–1649. doi:10.1039/C4NR06033D.
• J. Hornich, C. Pflaum, C. Brabec, K. Forberich, Numerical study of plasmonic absorption enhancement in semiconductor absorbers by metallic nanoparticles, Journal of Applied Physics. (2016). doi:10.1063/1.4962459.
• C.O. Ramírez Quiroz, C. Bronnbauer, I. Levchuk, Y. Hou, C.J. Brabec, K. Forberich, Coloring Semitransparent Perovskite Solar Cells via Dielectric Mirrors, ACS Nano. 10 (2016) 5104–5112. doi:10.1021/acsnano.6b00225